混凝土检测仪器的测试方法

　　混凝土检测仪器不仅从测量系统的本身具有使测试误差达到   小化的结构，而且可以借助于图像识别和伺服电机控制每个探针的调整（在调整时，需要利用控制垂直运动的伺服电机，先抬起探针，调整之后再通过软着陆的方式放下探针），探针测试位置的准确；另外通过控制纵横向伺服电机实现平台的纵横向移动，使硅片位置调整自动化，并且能够做到严格控制步进的距离，混凝土电阻率测试仪可以实现   小步距0.25μm，这样就可以很方便地进行大样片的检测，以达到测试微区的目标，并且可以地提高测试速度。

　　混凝土电阻率测试仪根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。混凝土电阻率测试仪换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

　　混凝土电阻率测试仪采用四探针测试技术方法分为直线四探针法和方形四探针法。方形四探针法又分为竖直四探针法和斜置四探针法。方形四探针法具有测量较小微区的优点，可以测试样品的不均匀性，微区及微样品薄层电阻的测量多采用此方法。值得提出的是每种方法都对被测样品的厚度和大小有   的要求，当不满足条件时，   考虑边缘效应和厚度效应的修正问题。混凝土电阻率测试仪具有测量、、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。适用于半导体材料厂器件厂、单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

　　混凝土电阻率测试仪利用方形四探针测试原理研制出检测硅芯片薄层电阻的方形四探针测试仪。该仪器利用斜置的探针，通过摄像头，借助于计算机显示器观察探针测试位置，用伺服电机控制样品平台和探针的移动，实现自动调整与测试硅芯片的电阻率均匀性。

　　混凝土电阻率测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入；具有零位、满度自校功能；全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。混凝土电阻率测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！

　　混凝土贯入仪试验规程

　　1、混凝土放于仪器底盘上，松开调节螺套，选装上合适的贯入针。

　　2、旋动调节螺塞使压力表指针对准刻度零线。

　　3、将动作钮子开关置于调整位置，将正反转钮子开关置于正转位置，试料容器在按工作按钮后2秒开始上升。待停止以后，即可调整。调整时拧松调节螺套将贯入针调至刚好接触试料面，拧紧调节螺套固定贯入针。再按动工作按钮，10秒钟以后试料容器升高25mm，即贯入到   深位置，读取压力表贯入阻力并记录，试料容器停留4秒钟以后，开始下降，7秒钟后恢复原位。自动停机，一次测试完成。

　　4、混凝土贯入仪作   次贯入测试时   变换贯入位置，推动手柄使其旋转   角度，当贯入点在外圈时，变化测点只需推动手柄一次；当贯入点在内圈时，变化它则需推动手柄二次。

　　5、在测试过程中，应经常注意压力表指针起始是否在零位，如不在零位应调零。

　　6、在不需调整贯入针高低时，可将动作纽子开关置于自动位置，这样在以后的测试中只要按启动按纽一次，即自动作一次测试循环。

　　混凝土这种材料的电导性具有不均一性，它可以被外界温度和混凝土的含水率所影响。在同一点测试时，本仪器的准确度应该在1%以内。然而，我们要记住混凝土的电阻率会随着含水率的变化而改变。当混凝土从水饱和状态变为烤干状态，那么混凝土的电阻率可以由水饱和时的不到1kΩ·cm升高到100kΩ·cm。

　　因此，测试时   明白混凝土的电阻率会受到外界温度和混凝土含水率变化而变化。同时测试电阻电流也会被混凝土中钢筋影响。所以，如果在测试区有钢筋时，用钢筋扫描仪准确定出混凝土中钢筋的位置，然后在用探头测试时尽量离这些钢筋远些。

　　当混凝土表面过于狭窄，小于探头的长度（150mm）或混凝土表面很不平整以至于探头上4个电极无法同时接触混凝土表面，在这种情况下，测试就无法进行。本仪器的探头上有4个电极，每个电极的间距是50mm。如果间距太小，会由于粗骨料的存在而造成测试结果的离散性变大。如果间距太大，测试结果的准确性会下降，主要是混凝土中钢筋对电流影响增大。如果测试表面弯曲或挖空，测试也无法进行，因为探头上的电极是平行的，测试时4个电极   都和混凝土表面接触。

　　测试结果可能会受电极和混凝土表面的接触条件影响，因此在测试时，要注意接触条件。